TableXAFS是一種實(shí)驗(yàn)室級(jí)小型化X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)分析設(shè)備，能夠在常規(guī)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)完成材料的局域原子結(jié)構(gòu)表征，其核心特點(diǎn)是擺脫對同步輻射光源的依賴，通過緊湊設(shè)計(jì)和高性能組件集成，實(shí)現(xiàn)與大型同步輻射裝置類似的功能，但體積更小、成本更低、操作更靈活。

CT型真空紫外光譜儀具備較高的靈敏度和分辨率，能夠精確測量微弱的光譜信號(hào)，揭示物質(zhì)更細(xì)微的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。其次，該儀器具備較寬的波長覆蓋范圍，可以覆蓋從近紫外到真空紫外區(qū)域的多個(gè)波長范圍，滿足各種研究需求。

真空紫外光譜儀采用Seya- Namioka光路結(jié)構(gòu)，入射狹縫和CCD探測器位于羅蘭圓上，可以單色模式和光譜模式切用 。

x射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀通過在反應(yīng)過程中實(shí)時(shí)監(jiān)測吸收邊的近邊（XANES）和擴(kuò)展邊（EXAFS）信號(hào)，揭示材料在真實(shí)環(huán)境中的結(jié)構(gòu)演化規(guī)律，為理解構(gòu)效關(guān)系、優(yōu)化材料設(shè)計(jì)提供直接依據(jù)。

X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。