X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(XAFS)譜儀同步輻射X射線吸收近邊結(jié)構(gòu)主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。
查看詳情
產(chǎn)品中心
Product Center
當(dāng)前位置:首頁
產(chǎn)品中心
X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(XAFS)譜儀同步輻射X射線吸收近邊結(jié)構(gòu)主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。
查看詳情
擴(kuò)展x射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。
查看詳情
X射線吸收精細(xì)譜儀是一種基于同步輻射光源的大型科學(xué)實(shí)驗(yàn)裝置,它通過精確測量材料在特定元素吸收邊附近對X射線的吸收系數(shù)隨光子能量的變化規(guī)律(即X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu),XAFS),來獲取該元素原子尺度的局部結(jié)...
查看詳情
400-8877-750
